SEM是 扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope）的缩写。它是一种利用电子束扫描样品表面，产生二次电子等信号，并通过检测这些信号来获取样品表面形貌、成分等信息的高分辨率电镜。
扫描电子显微镜（SEM）技术原理：
电子束扫描 ：SEM使用聚焦极窄的高能电子束扫描样品表面。信号检测：
电子束与样品相互作用产生二次电子、能谱特征X射线、背散射电子、荧光信号以及背散射衍射信号等多种电子信号。
图像形成：
这些信号被探测器检测到，并以信号电子量作为各点亮度形成SEM图像。
高分辨率：
SEM具有高分辨率，能够观察到纳米级别的细节，并具有较大的景深，能清晰呈现三维形貌。
成分分析：
在观察形貌的同时，SEM还能对微区成分进行细致分析，实现对物质的三维形貌与成分的综合观测。
应用领域
SEM在材料科学、生物学、医学、地质学等众多领域有着广泛应用，常用于观察和分析材料的微观结构、形貌以及成分等信息。
实验设计：
在使用SEM时，需要对样品进行去除水分等预处理，并进行赋予导电性的预处理，以确保电子从电子源顺利到达样品且样品不受电子束影响。同时，SEM的真空度也需要控制在10^-2 ~ 10^-3 Pa之间。
结论：
SEM是一种强大的分析工具，能够提供高分辨率的表面形貌和成分信息，对科学研究、工业生产和材料表征等领域具有重要价值。