漂移修正程序是一种 用于校正仪器漂移的程序，主要应用于X射线荧光光谱仪等分析仪器中。通过测量用于校正仪器漂移的漂移校正样品（或称之为标准化样品），记录初始的X射线荧光强度值，并在一段时间后再次测量漂移校正样品以获得漂移校正系数。在测量未知样品时，可以使用这个漂移校正系数来校正样品的X射线荧光强度，从而获得更准确的测量结果。
具体操作步骤如下：
1. 在System Setup中建立一个漂移校正程序。
2. 为每个扫描段设置一个校正通道，确保该通道的测量条件与扫描程序完全一致，否则该段中的所有谱线都不予计算drift factor。
3. 在建立校准曲线的前后，测量用于校正仪器漂移的漂移校正样品，记录初始的X射线荧光强度值。
4. 一段时间后，再次测量漂移校正样品，记录X射线荧光强度值，并与初始值进行比较，获得漂移校正系数。
5. 测量未知样品时，用漂移校正系数校正未知样品的X射线荧光强度，获得校正强度。
6. 将校正强度代入校准曲线，计算待测元素的含量。
通过以上步骤，可以有效地对仪器的漂移进行校正，从而提高分析结果的准确性和可靠性。