一、X射线衍射(XRD)分析软件
Jade - 物相检索功能强大,支持PDF文件索引和多种检索方式,可完成95%以上的物相定性/定量分析。
- 提供图谱拟合、结构精修、残余应力计算等附加功能。
HighScore
- 支持更多数据格式和窗口自定义设置,谱线显示更直观。
- 提供手动加峰/减峰、衍射图平滑等操作,提升分析效率。
CPdfWin
- 基础款软件,按d值检索,但需手动标定衍射峰,复杂谱图处理效率较低。
二、X射线光电子能谱(XPS)分析软件
Avantage
- 支持自动/手动谱峰识别(全扫/高分辨),提供一键式荷电校准和背景去除功能。
- 可进行元素定量分析、峰强度计算及谱线修正。
LabSpec
- 全面覆盖FT-IR光谱分析流程,包括数据采集、处理、自动化分析及报告生成。
三、扫描电子显微镜(SEM)图像分析软件
Digital Micrograph (DM)
专注SEM图像处理,提供图像采集、增强、测量及数据分析功能,是TEM/SEM图像分析的必备工具。
四、知识图谱构建工具
CiteSpace
- 专用知识图谱构建软件,支持文献数据库(如ISI、CSSCI)的关联分析,适合学术研究。
BoardMix
- 在线协作白板工具,支持AI生成内容、思维导图及流程图,适合团队知识管理和项目规划。
五、其他相关工具
FineBI: 商业智能工具,用于数据可视化与仪表板制作,支持多数据源连接。 QlikView
以上软件可根据具体分析需求选择,例如XRD选Jade或HighScore,XPS选Avantage,SEM图像分析用DM,知识图谱构建则推荐CiteSpace或BoardMix。