芯片筛片程序是一种用于筛选芯片的方法、装置及设备，其目的是在多个样品芯片中筛选出符合特定性能要求的芯片。以下是该程序的主要步骤：
板级测试
对多个样品芯片进行板级测试。
筛选出在极限温度下正常工作且结温值处于第一预定范围内的样品芯片，将其确定为第一目标芯片。
获取性能参数
获取多个第一目标芯片的静态电流值和振荡频率值。
确定静态电流阈值和振荡频率阈值。
FT测试
对第一目标芯片进行FT（Fault Tree）测试。
筛选出在预定时间内的结温温升值在第二预定范围内的第一目标芯片，将其确定为第二目标芯片。
通过这一系列步骤，芯片筛片程序能够有效地从大量样品芯片中筛选出性能稳定且符合特定要求的芯片，从而提高芯片的可靠性和筛选效率。